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ISBN : 978-2-7462-1385-2
ISBN élec : 978-2-4227-4227-2
Printed in:
French
Discipline:
Basic science, Physics
Publication date: 02/11/2006
Cet ouvrage collectif présente un état des lieux des différents aspects de l'étude de la matière condensée au moyen de l'analyse de son interaction avec les rayons X. Il fait suite à la tenue à Limoges en février 2006, du colloque Rayons X et Matière - RX 2006 et rassemble les contributions de spécialistes invités. Physiciens, chimistes, mécaniciens font une revue à caractère pédagogique de leur discipline, autour de problèmes liés à l'utilisation des rayons X. Les domaines scientifiques étudiés concernent la diffusion ou la diffraction des rayons X. Ils portent sur l'analyse quantitative par diffraction des rayons X, l'ordre-désordre et la diffusion diffuse, l'instrumentation, la mécanique des matériaux, l'analyse microstructurale par diffraction.
Philippe Goudeau est directeur de recherche au CNRS et responsable de l’équipe propriétés mécaniques des films minces au LMP (Poitiers). Ses recherches concernent l’étude des effets de taille sur les propriétés mécaniques des films minces par diffraction des rayons X en laboratoire et sur des sources synchrotrons.René Guinebretière est professeur en physique des matériaux à l’ENSCI de Limoges. Il enseigne la radiocristallographie et effectue ses recherches sur l’élaboration et la caractérisation par diffraction des rayons X de nanomatériaux oxydes au sein du laboratoire SPCTS associé au CNRS.